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自動光學(xué)檢查系統(tǒng)

簡要描述:自動光學(xué)檢查系統(tǒng) 簡介:全自動AOI系統(tǒng)可獲取目標(biāo)表面高分辨率圖像,并根據(jù)用戶標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行光學(xué)檢測。例如,激光二極管的端面檢查,鍍膜的質(zhì)量監(jiān)控,表面檢查,半導(dǎo)體芯片的頂部/底部/側(cè)壁檢查,以及晶片分揀。

  • 產(chǎn)品型號:customized
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時間:2024-09-06
  • 訪  問  量: 890

詳細(xì)介紹

一、產(chǎn)品概述:

自動光學(xué)檢查系統(tǒng)AOI)是一種用于檢測電子制造過程中印刷電路板(PCB)和元件的缺陷的高效設(shè)備。它通過圖像處理技術(shù)自動識別和評估產(chǎn)品的外觀和質(zhì)量,廣泛應(yīng)用于電子組裝行業(yè)。

1. 全自動AOI系統(tǒng)可獲取目標(biāo)表面高分辨率圖像,并根據(jù)用戶標(biāo)準(zhǔn)執(zhí)行光學(xué)檢測。例如,激光二極管的端面檢查,鍍膜的質(zhì)量監(jiān)控,表面檢查,半導(dǎo)體芯片的頂部/底部/側(cè)壁檢查,以及晶片分揀。

2. 對于所有的ficonTEC系統(tǒng),模塊化的方式使得為監(jiān)測平臺提供附加功能成為可能—自動托盤處理,不同的進(jìn)料模式,測試功能(例如 LIV),芯片頂部/底部檢查,以及實時標(biāo)記等。

3.主要功能:芯片側(cè)壁檢查、晶片分揀、裂紋識別、Break-out 檢測、裂紋擴(kuò)展預(yù)測、粒子識別、灰塵和纖維識別、詳細(xì)的組件/亞批次/批次跟蹤、單獨錯誤種類處理。

二、設(shè)備用途/原理

·設(shè)備用途

AOI系統(tǒng)主要用于表面貼裝技術(shù)(SMT)和傳統(tǒng)焊接過程中的質(zhì)量控制。它能夠檢測諸如元件缺失、錯位、短路、開路及焊接缺陷等問題,從而提高產(chǎn)品的可靠性和生產(chǎn)效率。AOI還可用于在生產(chǎn)線的不同階段進(jìn)行檢查,確保產(chǎn)品在出廠前達(dá)到質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。

·工作原理

AOI系統(tǒng)的工作原理是通過高分辨率攝像頭對PCB進(jìn)行拍攝,并與預(yù)設(shè)的標(biāo)準(zhǔn)圖像進(jìn)行比較。系統(tǒng)通過先進(jìn)的圖像處理算法分析圖像,識別出不符合標(biāo)準(zhǔn)的缺陷。通常,AOI系統(tǒng)配備有高清晰度光源,以確保在不同光照條件下獲得清晰的圖像。檢測結(jié)果可實時反饋給生產(chǎn)線操作員,幫助快速定位和修復(fù)問題,從而提高生產(chǎn)效率和產(chǎn)品質(zhì)量。


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